依據(jù)标(biāo)準IEC 61000-4-2/GBT17626.2的(de)定(dìng)義，静(jìng)電(diàn)放(fàng)電(diàn)就(jiù)是(shì)具有(yǒu)不(bù)同(tóng)静(jìng)電(diàn)電(diàn)位(wèi)的(de)物(wù)體(tǐ)相互靠近(jìn)或(huò)直(zhí)接接觸引起(qǐ)的(de)電(diàn)荷轉(zhuǎn)移。
當人(rén)體(tǐ)穿着絕緣材料的(de)织物(wù)並(bìng)且(qiě)对(duì)地(dì)絕緣时(shí)，在(zài)地(dì)面(miàn)上(shàng)運動(dòng)时(shí)可(kě)能(néng)積累一(yī)定(dìng)數量(liàng)的(de)電(diàn)荷。當人(rén)體(tǐ)接觸到(dào)與(yǔ)地(dì)相连的(de)設備时(shí)就(jiù)会(huì)産生(shēng)静(jìng)電(diàn)放(fàng)電(diàn)。
静(jìng)電(diàn)放(fàng)電(diàn)試验(yàn)主要(yào)檢查人(rén)或(huò)物(wù)體(tǐ)在(zài)接觸設備时(shí)所(suǒ)引起(qǐ)的(de)放(fàng)電(diàn)（直(zhí)接放(fàng)電(diàn)），以(yǐ)及(jí)人(rén)或(huò)物(wù)體(tǐ)对(duì)設備鄰近(jìn)物(wù)體(tǐ)的(de)放(fàng)電(diàn)（間(jiān)接放(fàng)電(diàn)）时(shí)对(duì)設備工作(zuò)造成(chéng)的(de)影響。静(jìng)電(diàn)放(fàng)電(diàn)时(shí)可(kě)以(yǐ)在(zài)0.5～20ns的(de)时(shí)間(jiān)內(nèi)産生(shēng)1～50A的(de)放(fàng)電(diàn)電(diàn)流。雖(suī)然電(diàn)流很大(dà)但因(yīn)持續时(shí)間(jiān)很短(duǎn)，故能(néng)量(liàng)很小。所(suǒ)以(yǐ)一(yī)般静(jìng)電(diàn)放(fàng)電(diàn)不(bù)会(huì)对(duì)人(rén)産生(shēng)傷害，但对(duì)集成(chéng)電(diàn)路(lù)芯片(piàn)等電(diàn)子産品可(kě)能(néng)産生(shēng)破壞性(xìng)的(de)危害。
1）試验(yàn)环(huán)境条(tiáo)件(jiàn)
i.气(qì)候环(huán)境: 环(huán)境温(wēn)度(dù)15°C ~30 °C
相对(duì)湿(shī)度(dù)30%~60%
大(dà)气(qì)壓力86kPa ~ 106kPa
ii.電(diàn)磁环(huán)境: 不(bù)影響試验(yàn)結果(guǒ)的(de)环(huán)境
2）試验(yàn)布(bù)置
雖(suī)然静(jìng)電(diàn)放(fàng)電(diàn)試验(yàn)非(fēi)常容易,但它(tā)是(shì)所(suǒ)有(yǒu)EMC測試項目中重(zhòng)複性(xìng)最(zuì)低(dī)的(de)測試項目之(zhī)一(yī)。
在(zài)做静(jìng)電(diàn)放(fàng)電(diàn)測試时(shí)，經(jīng)常会(huì)碰到(dào)这(zhè)種(zhǒng)情(qíng)況：同(tóng)一(yī)个被(bèi)測品在(zài)A實(shí)验(yàn)室(shì)通过(guò)了(le)，但是(shì)在(zài)B實(shí)验(yàn)室(shì)卻通不(bù)过(guò)，導致(zhì)此(cǐ)種(zhǒng)情(qíng)況的(de)原因(yīn)，可(kě)以(yǐ)总結分(fēn)析出(chū)以(yǐ)下(xià)幾(jǐ)種(zhǒng)可(kě)能(néng)：
① 由于(yú)測試設備的(de)不(bù)同(tóng)，導致(zhì)測試結果(guǒ)的(de)不(bù)同(tóng)
② 由于(yú)測試环(huán)境的(de)不(bù)同(tóng)，導致(zhì)測試結果(guǒ)的(de)不(bù)同(tóng)
③ 由于(yú)測試人(rén)員的(de)不(bù)同(tóng)，導致(zhì)測試結果(guǒ)的(de)不(bù)同(tóng)
針(zhēn)对(duì)以(yǐ)上(shàng)的(de)原因(yīn)，具體(tǐ)分(fēn)析如(rú)下(xià)：
1、由于(yú)測試設備的(de)不(bù)同(tóng)，導致(zhì)測試結果(guǒ)的(de)不(bù)同(tóng)
依據(jù)标(biāo)準IEC 61000-4-2：2008，静(jìng)電(diàn)放(fàng)電(diàn)模拟器的(de)要(yào)求：
静(jìng)電(diàn)放(fàng)電(diàn)電(diàn)流波(bō)形的(de)規定(dìng)，主要(yào)的(de)四(sì)个關(guān)鍵指标(biāo)为(wèi)：首次(cì)峰(fēng)值電(diàn)流Ip；上(shàng)升(shēng)时(shí)間(jiān)Tr；30ns时(shí)的(de)電(diàn)流值I30；60ns时(shí)的(de)電(diàn)流值I60。從上(shàng)表(biǎo)中可(kě)以(yǐ)看(kàn)出(chū)这(zhè)四(sì)个指标(biāo)的(de)容許偏差都較大(dà)，首次(cì)峰(fēng)值電(diàn)流Ip为(wèi)±15%，上(shàng)升(shēng)时(shí)間(jiān)Tr为(wèi)±25%，30ns时(shí)的(de)電(diàn)流值I30为(wèi)±30%，60ns时(shí)的(de)電(diàn)流值I60为(wèi)±30% 。
以(yǐ)下(xià)是(shì)4个符合标(biāo)準的(de)静(jìng)電(diàn)放(fàng)電(diàn)模拟器的(de)輸出(chū)波(bō)形对(duì)比，分(fēn)别屬于(yú)不(bù)同(tóng)的(de)公(gōng)司。
從波(bō)形可(kě)以(yǐ)看(kàn)出(chū)，區(qū)别還(huán)是(shì)很大(dà)的(de)。
2、由于(yú)測試环(huán)境的(de)不(bù)同(tóng)，導致(zhì)測試結果(guǒ)的(de)不(bù)同(tóng)
对(duì)静(jìng)電(diàn)測試重(zhòng)複性(xìng)影響最(zuì)大(dà)的(de)环(huán)境因(yīn)素就(jiù)是(shì)湿(shī)度(dù)，空气(qì)湿(shī)度(dù)的(de)變(biàn)化(huà)对(duì)放(fàng)電(diàn)參數的(de)影響，見(jiàn)下(xià)图(tú)：
有(yǒu)研究表(biǎo)明，實(shí)验(yàn)室(shì)条(tiáo)件(jiàn)下(xià)的(de)气(qì)體(tǐ)壓強(qiáng)受环(huán)境湿(shī)度(dù)的(de)影響顯著，而(ér)气(qì)體(tǐ)壓強(qiáng)又将作(zuò)用(yòng)于(yú)電(diàn)子漂移速度(dù)，因(yīn)而(ér)环(huán)境湿(shī)度(dù)越大(dà)，壓強(qiáng)越大(dà)，放(fàng)電(diàn)電(diàn)流也(yě)会(huì)随之(zhī)增大(dà)。所(suǒ)以(yǐ)空气(qì)湿(shī)度(dù)对(duì)静(jìng)電(diàn)放(fàng)電(diàn)測試有(yǒu)着很大(dà)的(de)影響。
3、由于(yú)測試人(rén)員的(de)不(bù)同(tóng)，導致(zhì)測試結果(guǒ)的(de)不(bù)同(tóng)
不(bù)同(tóng)的(de)測試人(rén)員在(zài)進(jìn)行静(jìng)電(diàn)放(fàng)電(diàn)測試时(shí)，肯定(dìng)也(yě)是(shì)会(huì)有(yǒu)一(yī)些差异(yì)的(de)，但是(shì)測試依據(jù)的(de)标(biāo)準都是(shì)一(yī)樣(yàng)的(de)(IEC 61000-4-2)，标(biāo)準中对(duì)測試方(fāng)法(fǎ)都進(jìn)行的(de)詳细(xì)的(de)说明，所(suǒ)以(yǐ)在(zài)不(bù)同(tóng)的(de)測試人(rén)員身(shēn)上(shàng)産生(shēng)的(de)差异(yì)很有(yǒu)限，在(zài)这(zhè)不(bù)做主要(yào)原因(yīn)分(fēn)析。
